HOME > 제품소개 > Probe Card
 
 
 
 
반도체 칩을 이루는 웨이퍼를 검사하는 장치로써 웨이퍼 각각의 칩을 Probe Card를 이루는 NEEDLE로 CONTECT한 후
TEST를 위한 전기적 신호를 보내 양품/불량품을 가려내는 장치를 말한다.
당사는 고성능 Chip을 Test하는데 필요한 초고다층 초고성능 Probe Card 를 생산하고 있으며, 원천기술력을 바탕으로
지속적인 기술개발을 하고있습니다.