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LCD 검사장비의 하나로 TFT (TFT LCD, PDP 등) 제조공정 중 Cell공정의 최종검사단계에서 LCD Panel의 전극에 접촉시켜 전기적 신호에 의한 Visual Test를 통해 불량 유무를 판단하게 하는 CONTACT 장치 중 핵심적인 부품입니다.
 
 
PRO-2000이 처음 개발한 기술로서 COF를 Direct로 Panel의 PAD에 접촉시키는 새로운 형태의 UNIT으로 기존 기술과는 다른 혁신적인 기술입니다.
이는 기존의 PIN TYPE 의 개념을 완전히 무너뜨린 기술로서 PROBE UNIT의 혁신적인 변화를 가져 왔으며, LCD 검사 장치 판도의 변화를 주도 하고 있습니다.
특히 현존하는 모든 PANEL의 피치가 대응 가능하고 COF의 CONTACT으로 별다른 PIN 제작 과정을 삭제함으로써 큰 원가절감으로 고객의 경쟁력에 기여하고 있습니다.
 
 
- COF를 이용한 모든 Pitch 대응 가능
- COF Direct contact 이라는 新 개념의 기술
- 제조 단가 절감
- Repair 처리 탁월
- 짧은 생산 시간으로 다품종 소량 생산 대응 가능
- Panel 의 PAD scratch 가 적다
 
Probe Unit의 세대별 분류
1세대 NEEDLE TYPE
1.5세대 BLADE TYPE
2세대 MEMS TYPE
3세대 COF DIRECT CONTACT TYPE