主页产业介绍半导体检测设备探针卡（Probe Card）

探针卡（Probe Card）

什么是半导体检测装置？

半导体在经过晶圆切割和封装工序之后，检查芯片性能优良与否时，承担接口作用的必要检测装置，一般将其称为“探针卡（Probe Card）”。

探针卡（Probe Card）的作用就是在半导体芯片中，向显示屏驱动芯片，即DDI芯片发出电信号，起到分辨良品/不良品的作用。

产品介绍半导体用探针卡（Probe Card）

半导体在经过晶圆切割和封装工序之后，检查芯片性能优良与否时，承担接口作用的必要检测装置

适用范围

DDI 用

(Display Driver IC)

ASIC, SOC, PMIC

Application Specific IC

System on Chip

Power Management IC

COF 用

(Chip on Film)

适用范围

Cantilever type

11μm Fine Pad Pitch

接触寿命7百万次

3.5GHz High speed

Channel Share

HSDR2 Option

T6391 ND4向

Pin材料： Pt-，W-alloy等

Multi DUT 32-Para Solution

PCB Design Solution

Application Know-How

低费用/单纳机/快速反应

Pin材料：ReW,Pt-alloy

2-Para Test Solution

2.5GH High Speed

实现 ND2 MUX,

1728-扩展channel

Special PCB Design Solution

Pin材料：W,ReW

性能及特点

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